We present heavy ion test results for a bipolar logic device of moderate complexity. Such devices require the implementation of special techniques for testing circuits of varying upset sensitivity, and unlike similar MOS devices, present problems with test data interpretation.


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    Titel :

    Heavy-ion induced single event upsets in a bipolar logic device


    Weitere Titelangaben:

    Schwerioneninduzierte einzelne Umkippvorgaenge in bipolaren logischen Schaltkreisen


    Beteiligte:
    Kolasinski, W.A. (Autor:in) / Koga, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1983


    Format / Umfang :

    5 Seiten, 6 Bilder, 2 Tabellen, 11 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Single event upsets in space

    PETERSEN, E. | AIAA | 1983



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    Zoutendyk, John A. | NTRS | 1988


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    Zoutendyk, John A. / Smith, Lawrence S. / Soli, George A. et al. | NTRS | 1988