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    Titel :

    TID, SEE and radiation induced failures in advanced flash memories


    Beteiligte:
    Nguyen, D. N. (Autor:in) / Scheick, L. Z. (Autor:in)

    Kongress:

    2003 Non-volatile Memory Technology Symposium ; 2003 ; San Diego, CA, United States


    Erscheinungsdatum :

    01.11.2003


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    TID, SEE and radiation induced failures in advanced flash memories

    Scheick, Leif Z. / Nguyen, Duc N. | NTRS | 2003



    Evaluation of Radiation Effects in Flash Memories

    Miyahira, T. / Swift, G. | NTRS | 1998


    The effects of TID on wear-out of advanced flash memories

    Nguyen, D. / Scheick, L. / Swift, G. M. et al. | NTRS | 2000


    Advanced mass memories

    SCHWEE, L. / ANDERSON, W. / LIU, Y. et al. | AIAA | 1977