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    Titel :

    TID radiation effects on flash memories


    Beteiligte:
    Scheick, L. (Autor:in)

    Kongress:

    Compact Flash Memories, General Meeting


    Erscheinungsdatum :

    19.05.2002


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Evaluation of Radiation Effects in Flash Memories

    Miyahira, T. / Swift, G. | NTRS | 1998



    TID, SEE and radiation induced failures in advanced flash memories

    Scheick, Leif Z. / Nguyen, Duc N. | NTRS | 2003


    The effects of TID on wear-out of advanced flash memories

    Nguyen, D. / Scheick, L. / Swift, G. M. et al. | NTRS | 2000