UNKNOWN


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    TID, SEE and radiation induced failures in advanced flash memories


    Beteiligte:
    Scheick, Leif Z. (Autor:in) / Nguyen, Duc N. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    12.11.2003


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Evaluation of Radiation Effects in Flash Memories

    Miyahira, T. / Swift, G. | NTRS | 1998


    The effects of TID on wear-out of advanced flash memories

    Nguyen, D. / Scheick, L. / Swift, G. M. et al. | NTRS | 2000


    Advanced mass memories

    SCHWEE, L. / ANDERSON, W. / LIU, Y. et al. | AIAA | 1977