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    Titel :

    Evaluation of Radiation Effects in Flash Memories


    Beteiligte:
    Miyahira, T. (Autor:in) / Swift, G. (Autor:in)

    Kongress:

    MAPLD Conference


    Erscheinungsdatum :

    15.09.1998


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch






    TID, SEE and radiation induced failures in advanced flash memories

    Scheick, Leif Z. / Nguyen, Duc N. | NTRS | 2003


    The effects of TID on wear-out of advanced flash memories

    Nguyen, D. / Scheick, L. / Swift, G. M. et al. | NTRS | 2000