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    Titel :

    Electron microbeam testing of integrated circuits


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    01.02.1968


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Optical Testing of Integrated Circuits

    Erickson, J. | NTRS | 1984


    Testing integrated circuits by photoexcitation

    Erickson, J. J. / Levy, M. E. | NTRS | 1979


    Testing Fixture For Microwave Integrated Circuits

    Romanofsky, Robert / Shalkhauser, Kurt | NTRS | 1989


    Probe card for testing integrated circuits

    PAGANI ALBERTO | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff

    Automatic Parametric Testing Of Integrated Circuits

    Jennings, Glenn A. / Pina, Cesar A. | NTRS | 1989