Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Evaluating SEU effects in SRAM-based FPGA with bit-by-bit upset fault injection


    Beteiligte:
    Ningfang, S. (Autor:in) / Jiaomei, Q. (Autor:in) / Xiong, P. (Autor:in) / Yuntian, J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.4



    Evaluation of SRAM based FPGA performance by simulating SEU through fault injection

    Ibrahim, Mohamed Mahmoud / Asami, Kenichi / Cho, Mengu | IEEE | 2013


    Multiple Fault Injection Platform for SRAM-Based FPGA Based on Ground-Level Radiation Experiments

    Tonfat, Jorge / Tarrillo, Jimmy / Tambara, Lucas et al. | Springer Verlag | 2016


    Single event upset mitigation testing of SRAM-based FPGAs

    Yuguang, J. / Jianwei, H. / Xiang, Z. et al. | British Library Online Contents | 2014


    Multilevel fault tolerance reinforcement satellite information processing system based on SRAM FPGA

    WANG SHAOJUN / MA NING / CUI XIUHAI et al. | Europäisches Patentamt | 2015

    Freier Zugriff

    A Fault Injection technique oriented to SRAM-FPGAs

    Guzmán-Miranda, H. / Barrientos-Rojas, J. / Aguirre, M. A. | Springer Verlag | 2016