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    Titel :

    Single event upset mitigation testing of SRAM-based FPGAs


    Beteiligte:
    Yuguang, J. (Autor:in) / Jianwei, H. (Autor:in) / Xiang, Z. (Autor:in) / Minghui, C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2014


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    629.4



    Single event upset (SEU) testing at JPL

    Coss, James R. | NTRS | 1987


    Testing Electronic Devices for Single-Event Upset

    Nichols, D. K. / Price, W. E. / Malone, C. J. | NTRS | 1986


    SINGLE EVENT UPSET PROTECTION

    GEORGIN MARC J | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff

    Single event mitigation for Xilinx 7-series FPGAs

    Bates, T. / Bridges, C. P. | IEEE | 2018


    SINGLE EVENT UPSET PROTECTION

    GEORGIN MARC J | Europäisches Patentamt | 2024

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