Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Ellipsometry provides detailed analysis of infrared optical thin films


    Beteiligte:
    Tiwald, T.E. (Autor:in) / Synowicki, R. (Autor:in) / Lohneiss, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 46 , 8 ; 31-40


    Erscheinungsdatum :

    2010-01-01


    Format / Umfang :

    10 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    REFLECTIVE INFRARED ELLIPSOMETRY OF PLASTIC FILMS

    Folks, W. R. / Pandey, S. K. / Pribil, G. et al. | British Library Online Contents | 2006


    Infrared spectroscopic ellipsometry on ferroelectric thin films and narrow-gap semiconductors [4795-10]

    Chu, J. H. / Huang, Z. M. / International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2002




    Low-Temperature Far-Infrared Ellipsometry of Convergent Beam

    Sushkov, A. B. / Tishchenko, E. A. | British Library Online Contents | 1993