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    Titel :

    Optical constants and band gap determination of Pb0.95La0.05Zr0.54Ti0.46O3 thin films using spectroscopic ellipsometry and UV–visible spectroscopy


    Beteiligte:
    Batra, Vaishali (Autor:in) / Kotru, Sushma (Autor:in) / Varagas, M. (Autor:in) / Ramana, C.V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Optical materials ; 49 ; 123-128


    Erscheinungsdatum :

    2015-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    535




    Ellipsometry provides detailed analysis of infrared optical thin films

    Tiwald, T.E. / Synowicki, R. / Lohneiss, W. | British Library Online Contents | 2010



    Infrared spectroscopic ellipsometry on ferroelectric thin films and narrow-gap semiconductors [4795-10]

    Chu, J. H. / Huang, Z. M. / International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 2002


    Optical properties of sunlight reduced graphene oxide using spectroscopic ellipsometry

    Mohandoss, Manonmani / Nelleri, Anith | British Library Online Contents | 2018