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    Titel :

    New automatic defect classification algorithm based on a classification-after-segmentation framework


    Beteiligte:
    Lee, S.-H. (Autor:in) / Koo, H.-I. (Autor:in) / Cho, N.-I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2010-01-01


    Format / Umfang :

    20502 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    535.84



    Automatic defect classification for semiconductor manufacturing

    Chou, P. B. / Rao, A. R. / Sturzenbecker, M. C. et al. | British Library Online Contents | 1997


    Defect Classification Algorithm for IC Photomask Based on PCA and SVM

    Chen, Shizhe / Hu, Tao / Liu, Guodong et al. | IEEE | 2008



    Statistical Framework for Shot Segmentation and Classification in Sports Video

    Yang, Ying / Lin, Shouxun / Zhang, Yongdong et al. | Springer Verlag | 2007


    Orthogonal defect classification for projects

    Lutz, R. / Mikulski, C. | NTRS | 2003