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    Titel :

    Automatic defect classification for semiconductor manufacturing


    Beteiligte:
    Chou, P. B. (Autor:in) / Rao, A. R. (Autor:in) / Sturzenbecker, M. C. (Autor:in) / Wu, F. Y. (Autor:in) / Brecher, V. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01


    Format / Umfang :

    14 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    006.42



    New automatic defect classification algorithm based on a classification-after-segmentation framework

    Lee, S.-H. / Koo, H.-I. / Cho, N.-I. | British Library Online Contents | 2010


    Orthogonal defect classification for projects

    Lutz, R. / Mikulski, C. | NTRS | 2003



    Automatic defect detection [2785-11]

    Daillant, G. / Micollet, D. / Paindavoine, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996