Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Orthogonal defect classification for projects


    Beteiligte:
    Lutz, R. (Autor:in) / Mikulski, C. (Autor:in)

    Kongress:

    JPL/GSFC Quality Mission Software Workshop


    Erscheinungsdatum :

    13.05.2003


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Enhanced Software Defect Classification with NLP

    Ying Shi / Leila Meshkat / Daniel Chang | NTRS


    Automatic defect classification for semiconductor manufacturing

    Chou, P. B. / Rao, A. R. / Sturzenbecker, M. C. et al. | British Library Online Contents | 1997



    Shape-based defect classification for non destructive testing

    D'Angelo, Gianni / Rampone, Salvatore | IEEE | 2015