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    Titel :

    Orthogonal defect classification for projects


    Beteiligte:
    Lutz, R. (Autor:in) / Mikulski, C. (Autor:in)

    Kongress:

    JPL/GSFC Quality Mission Software Workshop


    Erscheinungsdatum :

    2003-05-13


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Enhanced Software Defect Classification with NLP

    Ying Shi / Leila Meshkat / Daniel Chang | NTRS


    Automatic defect classification for semiconductor manufacturing

    Chou, P. B. / Rao, A. R. / Sturzenbecker, M. C. et al. | British Library Online Contents | 1997


    Learnable Subspace Orthogonal Projection for Semi-supervised Image Classification

    Li, Lijian / Zhang, Yunhe / Huang, Aiping | British Library Conference Proceedings | 2023