Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Enhanced Software Defect Classification with NLP


    Beteiligte:
    Ying Shi (Autor:in) / Leila Meshkat (Autor:in) / Daniel Chang (Autor:in)

    Kongress:

    17th Annual Flight Software Workshop (FSW) ; 2024 ; San Antonio, TX, US


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Orthogonal defect classification for projects

    Lutz, R. / Mikulski, C. | NTRS | 2003


    Parsytec HTS-2: defect detection and classification through software vs. dedicated hardware [3645-20]

    Rinn, R. / Thompson, S. A. / Foehr, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Automatic defect classification for semiconductor manufacturing

    Chou, P. B. / Rao, A. R. / Sturzenbecker, M. C. et al. | British Library Online Contents | 1997