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    Titel :

    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronic devices


    Beteiligte:
    Hou, A. S. (Autor:in) / Nechay, B. A. (Autor:in) / Ho, F. (Autor:in) / Bloom, D. M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    24 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5



    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Ogletree, D.F. / Salmeron, M. et al. | IEEE | 1993


    Progress in ultrafast scanning probe microscopy

    Weiss, S. / Botkin, D. / Ogletree, D.F. et al. | IEEE | 1994


    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994