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    Titel :

    Ultrafast Scanning Probe Microscopy



    Kongress:

    Summer topical meeting, Optical microwave interactions ; 1993 ; Santa Barbara; CA


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.1993


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    Shelved at "Leos 1993 Summer topical meeting digest on optical microwave interactions" IEEE cat no 93TH0549-6



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Ogletree, D.F. / Salmeron, M. et al. | IEEE | 1993


    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronic devices

    Hou, A. S. / Nechay, B. A. / Ho, F. et al. | British Library Online Contents | 1996


    An Ultrafast-Ultrafine Scanning Force Photoconductive Probe

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995