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    Titel :

    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy



    Kongress:

    7th Annual meeting, LEOS '94 ; 1994 ; Boston; MA


    Erschienen in:

    LEOS '94 ; 207-208


    Erscheinungsdatum :

    1994-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    In 2 vols; IEEE Cat no 94CH3371-2



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Ogletree, D.F. / Salmeron, M. et al. | IEEE | 1993


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronic devices

    Hou, A. S. / Nechay, B. A. / Ho, F. et al. | British Library Online Contents | 1996


    An Ultrafast-Ultrafine Scanning Force Photoconductive Probe

    IEEE / Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1995