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    Titel :

    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics


    Beteiligte:
    Hou, A.S. (Autor:in) / Nechay, B.A. (Autor:in) / Ho, F. (Autor:in) / Bloom, D.M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1995


    Format / Umfang :

    363542 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Bolkin, D. / Ogletree, D.F. et al. | IEEE | 1993


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronic devices

    Hou, A. S. / Nechay, B. A. / Ho, F. et al. | British Library Online Contents | 1996


    Progress in ultrafast scanning probe microscopy

    Weiss, S. / Botkin, D. / Ogletree, D.F. et al. | IEEE | 1994


    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994