Auf Grundlage einer neu entwickelten Architektur aus so genannten Aktivpixeln wurde eine Range-Kamera entwickelt, die nach anfänglicher Kalibrierung auf Entfernungen von 2 bis 5 m Messungen bis auf 3 cm präzise Distanzmessungen vornehmen kann. Jedes im Einchip-Design entwickelte Aktivpixel besteht aus einer Single-Photon-Avalanche-Photodiode, Spannungskomparatoren, Frequenz-Amplitude-Wandlern und Filtern, die den Auslesekanal bilden. Theoretische Grundlagen und Messprinzip der Schaltung sind erläutert. Die Schaltungen werden in einem industriellen 0,8 µm Hochvoltprozess als Arrays von 64 Elementen hergestellt. Somit sind 64 Pixel-Linearkameras kostengünstig realisierbar. Die durchgeführten Messversuche zu Entfernungsmessungen und Distanzmessungen zur Oberflächenaufnahme sowie die erreichte Genauigkeit sind erläutert. Möglichkeiten der Anwendung und der Weiterentwicklung des Messinstrumentes werden angesprochen.


    Access

    Access via TIB

    Check availability in my library

    Order at Subito €


    Export, share and cite



    Title :

    A CMOS range camera based on single photon avalanche diode


    Additional title:

    CMOS-Range-Kamera mit Single-Photon-Avalanche-Photodioden



    Published in:

    tm - Technisches Messen ; 74 , 2 ; 57-62


    Publication date :

    2007-01-01


    Size :

    6 pages



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




    TCAD simulations for a novel single-photon avalanche diode

    Jin, Xiangliang / Yang, Jia / Yang, Hongjiao et al. | SPIE | 2015



    Lifetime-Based, Pressure-Sensitive Paint Measurements Using Single Photon Avalanche Diode Sensor Array

    Tsioumanis, Dimitrios / Quinn, Mark K. / White, Paul J. et al. | AIAA | 2025


    On-chip integrated photoelectric pod system based on area array single photon avalanche diode

    HU ZHIHONG / ZHANG CHAO / XI CHUNLIN | European Patent Office | 2025

    Free access

    Afterpulsing of single-photon avalanche photodetectors

    Kang, Y. / Bethune, D.S. / Risk, W.P. et al. | IEEE | 2003