PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test device and a test method, capable of avoiding generation of a phase lag between actual signals, removing only a disturbance signal even when the frequency component of a measured waveform overlaps with the frequency of a disturbance, preventing measurement results from being affected and performing an accurate test.SOLUTION: Measurement data are obtained by specifying a position of the disturbance data of disturbance measurement data stored in a disturbance measurement data storage unit 110 through a matched filter 120 on the basis of the disturbance measurement data and test measurement data stored in a test measurement data storage unit 112 to remove the disturbance data from the test measurement data.
【課題】実信号との間に位相遅れが生じず、しかも、計測波形の周波数成分と外乱の周波数が重なる場合にも外乱信号のみを除去でき、計測結果に影響を及ぼすおそれがなく、正確な試験を実施することができる試験装置および試験方法を提供する。【解決手段】外乱計測データ記憶部110に記憶された外乱計測データと、試験計測データ記憶部112に記憶された試験計測データとに基づいて、マッチドフィルタ120を介して、外乱計測データの外乱データの位置を特定して、試験計測データから外乱データを除去することにより、計測データを得る。【選択図】図3
TEST DEVICE AND TEST METHOD
試験装置および試験方法
2015-12-14
Patent
Electronic Resource
Japanese