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    Title :

    Zuverlässigkeit und Alterungsverhalten von Lötstellen in der Mikroelektronik, dargestellt am Beispiel der Kontaktierung von Anschlußelementen an Kompaktbaugruppen / Rainer Dohle ; 1 [Texteil]


    Contributors:

    Publication date :

    1990


    Size :

    ca. 123 Bl


    Remarks:

    Digital preservation by Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Type of media :

    Book


    Type of material :

    Print


    Language :

    Unknown



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