Zuverlässigkeit und Alterungsverhalten von Lötstellen in der Mikroelektronik, dargestellt am Beispiel der Kontaktierung von Anschlußelementen an Kompaktbaugruppen / Rainer Dohle ; 1 [Texteil]
1990
ca. 123 Bl
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Buch
Unbekannt
Vorrichtung zur Klassifizierung einer elektrischen Kontaktierung zwischen zwei Anschlusselementen
Europäisches Patentamt | 2023
|Alterungsverhalten von Autotextilien
Tema Archiv | 2001
|Alterungsverhalten von Schutzhelmen
Kraftfahrwesen | 1992
|