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    Titel :

    Zuverlässigkeit und Alterungsverhalten von Lötstellen in der Mikroelektronik, dargestellt am Beispiel der Kontaktierung von Anschlußelementen an Kompaktbaugruppen / Rainer Dohle ; 1 [Texteil]


    Beteiligte:
    Dohle, Rainer (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    1990


    Format / Umfang :

    ca. 123 Bl


    Anmerkungen:

    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt



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