Report evaluates effects of power and temperature overstress on General Semi-conductor and Siemens devices. Excessive failure rates limited testing. Failure modes are described.


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    Titel :

    JANTX1N2970B zener diode


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1980-08-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch