Report evaluates effects of power and temperature overstress on Motorola and Siemens devices. Reverse bias leakage maximum limit failure and Zener-breakdown maximum limit failure were common. Other failures are described.


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    Titel :

    JANTX1N3016B zener diode


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1980-08-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch