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    Titel :

    Reliability aspects and facet damage in high-power emission from /AlGa/As cw laser diodes at room temperature


    Beteiligte:
    Kressel, H. (Autor:in) / Ladany, I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.06.1975


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Analysis of Facet Degradation of High Power 830nm Laser Diodes

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1996



    Modeling of facet heating in high-power laser diodes [3889-09]

    Romero, B. / Batko, G. / Arias, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    High brightness curved-facet laser diodes operating at 980 nm

    Braddell, J. / O'Brien, P. / McInerney, J. | IEEE | 1996


    Room-temperature continuous wave emission of II-VI laser diodes

    Ozawa, M. / Ishibashi, A. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994