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    Titel :

    High Reliability Screening of Semiconductor and Integrated Circuit Devices


    Beteiligte:
    J. Lombardi (Autor:in) / L. Mc Donough (Autor:in) / H. Padden (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    1967


    Format / Umfang :

    161 pages


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    High reliability screening of semiconductor and integrated circuit devices

    Lombardi, J. / McDonough, L. / Padden, H. | TIBKAT | 1967



    Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications

    Kanert, W. / Dettmer, H. / Plikat, B. et al. | Tema Archiv | 2003


    Semiconductor integrated circuit device

    WATANABE HISAAKI | Europäisches Patentamt | 2015

    Freier Zugriff

    Semiconductor integrated circuit device

    WATANABE HISAAKI | Europäisches Patentamt | 2017

    Freier Zugriff