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    Titel :

    High reliability screening of semiconductor and integrated circuit devices


    Beteiligte:
    Lombardi, J. (Autor:in) / McDonough, L. (Autor:in) / Padden, H. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1967


    Format / Umfang :

    XIII, 149 S


    Anmerkungen:

    Ill., graph. Darst
    Contract No. NAS 5-9639
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    High Reliability Screening of Semiconductor and Integrated Circuit Devices

    J. Lombardi / L. Mc Donough / H. Padden | NTIS | 1967



    Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications

    Kanert, W. / Dettmer, H. / Plikat, B. et al. | Tema Archiv | 2003


    Semiconductor integrated circuit device

    WATANABE HISAAKI | Europäisches Patentamt | 2017

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    Semiconductor integrated circuit device

    WATANABE HISAAKI | Europäisches Patentamt | 2015

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