We investigate the experimental limitations of the maximum resolution that can be achieved in far-field subsurface thermal imaging with a numerical aperture increasing lens- High-resolution thermal imaging has applications in failure analysis of Si integrated circuits.


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    Titel :

    High resolution subsurface thermal imaging using a numerical aperture increasing lens


    Beteiligte:
    Eraslan, M.G. (Autor:in) / Vamivakas, A.N. (Autor:in) / Ippolito, S.B. (Autor:in) / Unlu, M.S. (Autor:in) / Goldberg, B.B. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    1716835 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Comparison of numerical aperture increasing lens and standard subsurface microscopy

    Ippolito, S.B. / Goldberg, B.B. / Unlu, M.S. | IEEE | 2001




    High resolution multi-aperture imaging system

    WATSON KYLE D / DREXLER KYLE ROBERT / SPIVEY BRETT A | Europäisches Patentamt | 2018

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