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    Titel :

    ThN5 Comparison of Numerical Aperture Increasing Lens and Standard Subsurface Microscopy


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 14th, IEEE; Lasers and Electro-Optics Society ; 2001 ; San Diego, CA



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 01CH37242




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Comparison of numerical aperture increasing lens and standard subsurface microscopy

    Ippolito, S.B. / Goldberg, B.B. / Unlu, M.S. | IEEE | 2001


    High resolution subsurface thermal imaging using a numerical aperture increasing lens

    Eraslan, M.G. / Vamivakas, A.N. / Ippolito, S.B. et al. | IEEE | 2005



    Laser Signal Injection Microscopy of Si Integrated Circuits with a Numerical Aperture Increasing Lens

    IEEE Lasers and Electro-optics Society | British Library Conference Proceedings | 2005