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    Titel :

    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric-Wafer Active Sensors


    Autor / Urheber :

    Victor Giurgiutiu, Lingyu Yu, James Kendall, Christopher Jenkins


    Beteiligte:
    Victor Giurgiutiu (Autor:in) / Lingyu Yu (Autor:in) / James Kendall (Autor:in) / Christopher Jenkins (Autor:in)

    Erschienen in:

    AIAA Journal ; 45 , 11 ; 2758-2769


    Erscheinungsdatum :

    2007




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors

    Giurgiutiu, Victor / Jenkins, Christopher / Kendall, James et al. | AIAA | 2006


    AIAA-2006-2114 In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors

    Giurgiutiu, V. / Jenkins, C. / Kendall, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2006



    Corrosion damage detection with piezoelectric wafer active sensors

    Thomas, D.T. / Welter, J.T. / Giurgiutiu, V. | Tema Archiv | 2004