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    Titel :

    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors


    Beteiligte:
    Giurgiutiu, Victor (Autor:in) / Jenkins, Christopher (Autor:in) / Kendall, James (Autor:in) / Yu, Lingyu (Autor:in)

    Kongress:

    47th AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2006




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch




    In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric-Wafer Active Sensors

    Victor Giurgiutiu / Lingyu Yu / James Kendall et al. | AIAA | 2007


    AIAA-2006-2114 In-Situ Imaging of Crack Growth with Piezoelectric Wafer Active Sensors

    Giurgiutiu, V. / Jenkins, C. / Kendall, J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2006



    Corrosion damage detection with piezoelectric wafer active sensors

    Thomas, D.T. / Welter, J.T. / Giurgiutiu, V. | Tema Archiv | 2004