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    Titel :

    Scanning probe microscopy for energy research




    Erscheinungsdatum :

    2013


    Format / Umfang :

    XVI, 602 S.


    Anmerkungen:

    Ill., graf. Darst.
    Literaturangaben



    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher
    DDC:    621.31/2028



    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Microwave Theory and Techniques Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    Weiss, S. / Ogletree, D.F. / Salmeron, M. et al. | IEEE | 1993


    Progress in Ultrafast Scanning Probe Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Scanning probe microscopy for testing ultrafast electronics

    Hou, A.S. / Nechay, B.A. / Ho, F. et al. | IEEE | 1995