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    Titel :

    Circuit-simulation models of high power devices based on semiconductor physics


    Beteiligte:


    Erscheinungsdatum :

    2003


    Format / Umfang :

    123 S


    Anmerkungen:

    21 cm
    Ill., graph. Darst
    Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch , Deutsch




    Development of Characterization Circuit for Power Semiconductor Devices

    Vaishya, Gyanendra / Saini, Dheeraj / Patidar, Yugal et al. | IEEE | 2024


    Physics of semiconductor laser devices

    Thompson, G. H. B. | TIBKAT | 1980


    High Reliability Screening of Semiconductor and Integrated Circuit Devices

    J. Lombardi / L. Mc Donough / H. Padden | NTIS | 1967


    High reliability screening of semiconductor and integrated circuit devices

    Lombardi, J. / McDonough, L. / Padden, H. | TIBKAT | 1967