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    Titel :

    Physics of semiconductor laser devices


    Beteiligte:


    Erscheinungsdatum :

    1980


    Format / Umfang :

    XXV,549 S


    Anmerkungen:

    graph. Darst



    Medientyp :

    Buch


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    DDC:    535.5/8




    The use of physics-of-failure analysis to predict the reliability of semiconductor devices

    Knoell,B. / Adams,R. / McCluskey,P. et al. | Kraftfahrwesen | 1999


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    LEE TAE HEE / KYOUNG SEUNG JUNE / YIM MYUNG KYOON | Europäisches Patentamt | 2022

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    The Use of Physics-of-Failure Analysis to Predict the Reliability of Semiconductor Devices

    Knoell, Bob / McCluskey, Patrick / Adams, Rick | SAE Technical Papers | 1999