Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Investigation on Junction Temperature Characteristic and Temperature Distribution Detection for Pulsed IGBT Operation


    Beteiligte:
    Chen, M. (Autor:in) / Hu, A. (Autor:in) / Tang, Y. (Autor:in) / Wang, B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    7 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    DDC:    500



    Research on Accelerated Aging Test and Junction Temperature Detection Method of IGBT

    Sha, Yanbei / Pan, Guangze / Guo, Mengxue et al. | British Library Conference Proceedings | 2022


    Research on Accelerated Aging Test and Junction Temperature Detection Method of IGBT

    Sha, Yanbei / Pan, Guangze / Guo, Mengxue et al. | TIBKAT | 2022


    Research on Accelerated Aging Test and Junction Temperature Detection Method of IGBT

    Sha, Yanbei / Pan, Guangze / Guo, Mengxue et al. | Springer Verlag | 2022


    Train traction control method and system based on IGBT device operation real-time junction temperature

    ZHANG XIAO / LIN ZHENJUN / PENG CHENG et al. | Europäisches Patentamt | 2021

    Freier Zugriff

    Junction temperature calculation method of IGBT power module, motor controller and vehicle

    HUANG HUABO / CHU KANGKANG / RUAN OU et al. | Europäisches Patentamt | 2022

    Freier Zugriff