Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Atomic Force Microscopy: AFM helps engineer low-scatter thin films


    Beteiligte:
    Duparre, A. (Autor:in) / Kaiser, N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 34 , 4 ; 147-154


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1998


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366




    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998


    Atomic Force Microscopy Studies of Fibers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Atomic force microscopy in zero-g

    Friedfeld, R. / Parker, S. / Rodgers, G. et al. | IEEE | 2003


    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. et al. | British Library Online Contents | 1996