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    Titel :

    2.0107 Atomic Force Microscopy in Zero-g



    Kongress:

    Aerospace conference ; 2003 ; Big Sky, MT



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    83 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 03TH8652, CD-ROM version 03TH8652C




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Atomic force microscopy in zero-g

    Friedfeld, R. / Parker, S. / Rodgers, G. et al. | IEEE | 2003


    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998



    Atomic Force Microscopy Studies of Fibers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. et al. | British Library Online Contents | 1996