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    Titel :

    Investigation and tuning of organic thin films by methods of atomic force microscopy


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    2019


    Format / Umfang :

    VIII, 221 Seiten


    Anmerkungen:

    Illustrationen, Diagramme
    Literaturverzeichnis: Seite 201-212


    Medientyp :

    Hochschulschrift


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher



    Atomic Force Microscopy: AFM helps engineer low-scatter thin films

    Duparre, A. / Kaiser, N. | British Library Online Contents | 1998


    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998


    Investigation of Ferroelectric Domains in LiNbO~3 with Atomic Force Microscopy

    Benter, N. / Hoffmann, A. / Soergel, E. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Investigation of Photorefractive Strontium-Barium-Niobate Crystals with Atomic Force Microscopy

    Soergel, E. / Hoffmann, A. / Benter, N. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Atomic force microscopy in zero-g

    Friedfeld, R. / Parker, S. / Rodgers, G. et al. | IEEE | 2003