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    Titel :

    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology


    Beteiligte:
    Courrege, J. C. (Autor:in) / Venturin, J. L. (Autor:in) / Bezerra, F. (Autor:in) / D'Alberto, S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    500.5 / 387.8



    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology

    Courrege, J. C. / Venturin, J. L. / Bezerra, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    0.25mum Radiation Tolerant CMOS technology

    Rodde, K. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2002


    0.25 micron radiation tolerant CMOS technology

    Roedde, K. | Tema Archiv | 2002



    Design of radiation tolerant CMOS APS system-on-a-chip image sensors

    Eid, E.-S. / Ay, S.U. / Fossum, E.R. | IEEE | 2002