Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    0.25mum Radiation Tolerant CMOS technology


    Beteiligte:

    Kongress:

    European space components conference ; 2002 ; Toulouse, France



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    0.25 micron radiation tolerant CMOS technology

    Roedde, K. | Tema Archiv | 2002


    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology

    Courrege, J. C. / Venturin, J. L. / Bezerra, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology

    Courrege, J. C. / Venturin, J. L. / Bezerra, F. et al. | British Library Online Contents | 1997