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    Titel :

    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference; 3rd, Electronic components ; 1997 ; Noordwijk; The Netherlands



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    Also known as EECC'97



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability Behaviour of a Radiation Tolerant 0.6 m CMOS Technology

    Courrege, J. C. / Venturin, J. L. / Bezerra, F. et al. | British Library Online Contents | 1997


    0.25mum Radiation Tolerant CMOS technology

    Rodde, K. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2002


    0.25 micron radiation tolerant CMOS technology

    Roedde, K. | Tema Archiv | 2002



    Design of radiation tolerant CMOS APS system-on-a-chip image sensors

    Eid, E.-S. / Ay, S.U. / Fossum, E.R. | IEEE | 2002