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    Titel :

    Measurement of thicknesses and refractive indices by Iow-coherence confocal interferometric microscopy



    Kongress:

    International conference on optics and optoelectronics ; 1998 ; Dehradun; India



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    13 pages


    Anmerkungen:

    Also known as ICOL-98




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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