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    Titel :

    Degradation of Resonant Frequency in High-speed Quantum Well Lasers; Effects of Spectral Hole Burning, Hot Carrier, Hot Phonon, and Carrier Diffusion-Capture-Escape



    Kongress:

    8th Annual meeting, LEOS '95 ; 1995 ; San Francisco; CA


    Erschienen in:

    LEOS '95 ; 97-98


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1995


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE Cat no 95CH35739



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Analysis of Carrier Capture and Escape in InGaAsP/InP Quantum Well Lasers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1996



    Carrier escape time in GaAs/AlGaAs and InGaAs/GaAs quantum well lasers [2684-07]

    Esquivias, I. / Romero, B. / Weisser, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Carrier Dynamics in Quantum Well Lasers

    Thränhardt, A. / Koch, S. W. / Hader, J. et al. | British Library Online Contents | 2006