The low Earth orbit radiation environment has two significant characteristics that make laboratory simulation exposures difficult; (1) a low dose rate; and (2) many cycles of low-dose accumulation followed by dose-free annealing. Hardness-assurance considerations for this environment are discussed and related to data from the testing of advanced low power Schottky and high-speed CMOS devices.
Total-dose hardness assurance for low Earth orbit
Modelluntersuchungen zum Strahlenschutz schneller CMOS-Schaltungen fuer den Einsatz in Satelliten in niedriger Erdumlaufbahn
IEEE Transactions on Nuclear Science ; NS-34 , 6, PT.1 ; 1757-1762
1987
6 Seiten, 10 Quellen
Article (Journal)
English
INTEGRIERTE HALBLEITERSCHALTUNG , CMOS-SCHALTUNG , FORSCHUNGSSATELLIT , KOSMISCHE STRAHLUNG , STRAHLENSCHUTZ , DOSIMETRIE , WAERMEBEHANDLUNG , MODELLUNTERSUCHUNG , BIPOLARSCHALTUNG , ZUVERLAESSIGKEIT , UMWELTEINFLUSS , STRAHLUNGSWIRKUNG , DIGITALE INTEGRIERTE SCHALTUNG , BORDGERAET , BIPOLARE INTEGRIERTE SCHALTUNG , UMWELTPRUEFUNG , PRUEFUNG INTEGRIERTER SCHALTUNGEN , INTEGRIERTE VERKNUEPFUNGSSCHALTUNG , LOGIKPRUEFUNG
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