The low Earth orbit radiation environment has two significant characteristics that make laboratory simulation exposures difficult; (1) a low dose rate; and (2) many cycles of low-dose accumulation followed by dose-free annealing. Hardness-assurance considerations for this environment are discussed and related to data from the testing of advanced low power Schottky and high-speed CMOS devices.


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    Titel :

    Total-dose hardness assurance for low Earth orbit


    Weitere Titelangaben:

    Modelluntersuchungen zum Strahlenschutz schneller CMOS-Schaltungen fuer den Einsatz in Satelliten in niedriger Erdumlaufbahn


    Beteiligte:
    Maurer, R.H. (Autor:in) / Suter, J.J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IEEE Transactions on Nuclear Science ; NS-34 , 6, PT.1 ; 1757-1762


    Erscheinungsdatum :

    1987


    Format / Umfang :

    6 Seiten, 10 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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