In Hinsicht auf den Einsatz von ladungsgekoppelten Bauelementen fuer die Raumfahrt und deren Belastung durch eine stark ionisierende Umgebung, Van-Allen-Guertel, wurde der Einfluss der Gammastrahlung von Co 60 auf das Verhalten von Signaldetektoren und signalverarbeitenden Chips in ihrer Arbeitsweise untersucht. In den MOSFET-Strukturen wird ein erhoehtes Niederfrequenzrauschen festgestellt.
Gamma noise in CCDs
Gammastrahlrauschen in ladungsgekoppelten Bauelementen
Infrared Physics ; 15 , 4 ; 249-258
1975
10 Seiten, 9 Bilder, 1 Tabelle, 9 Quellen
Article (Journal)
English
Image smear noise in CCDs [6220-02]
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