In Hinsicht auf den Einsatz von ladungsgekoppelten Bauelementen fuer die Raumfahrt und deren Belastung durch eine stark ionisierende Umgebung, Van-Allen-Guertel, wurde der Einfluss der Gammastrahlung von Co 60 auf das Verhalten von Signaldetektoren und signalverarbeitenden Chips in ihrer Arbeitsweise untersucht. In den MOSFET-Strukturen wird ein erhoehtes Niederfrequenzrauschen festgestellt.


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    Title :

    Gamma noise in CCDs


    Additional title:

    Gammastrahlrauschen in ladungsgekoppelten Bauelementen


    Contributors:
    Autio, G.W. (author) / Bafito, M.A. (author)

    Published in:

    Infrared Physics ; 15 , 4 ; 249-258


    Publication date :

    1975


    Size :

    10 Seiten, 9 Bilder, 1 Tabelle, 9 Quellen




    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




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