In Hinsicht auf den Einsatz von ladungsgekoppelten Bauelementen fuer die Raumfahrt und deren Belastung durch eine stark ionisierende Umgebung, Van-Allen-Guertel, wurde der Einfluss der Gammastrahlung von Co 60 auf das Verhalten von Signaldetektoren und signalverarbeitenden Chips in ihrer Arbeitsweise untersucht. In den MOSFET-Strukturen wird ein erhoehtes Niederfrequenzrauschen festgestellt.


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    Titel :

    Gamma noise in CCDs


    Weitere Titelangaben:

    Gammastrahlrauschen in ladungsgekoppelten Bauelementen


    Beteiligte:
    Autio, G.W. (Autor:in) / Bafito, M.A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Infrared Physics ; 15 , 4 ; 249-258


    Erscheinungsdatum :

    1975


    Format / Umfang :

    10 Seiten, 9 Bilder, 1 Tabelle, 9 Quellen




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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