Die Untersuchungen eines Instrument-Landeverfahrens ergaben,dass zur Ueberwachung einer von stoerenden Nachbarbereichen befreiten Landebahn die Radarrundsicht die beste Kontrollmoeglichkeit bei vertretbarem Aufwand bietet. Fuer diese Zwecke wurde ein tragbarer Detektor mit einer Ortungsgenauigkeit von 0,0005 DDM entwickelt, der damit die um eine Zehnerpotenz niedrigeren CAO-Standardforderungen voll erfuellt. Ueber den Aufbau, die Ausfuehrung und die Erprobung dieses Leitstrahl-Monitors wird berichtet.


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    Title :

    Instrument landing system improvement program: Centerline monitor (Final rept.)


    Additional title:

    systems: Leistrahl-Monitor. (Schlussbericht)


    Contributors:

    Published in:

    Publication date :

    1974


    Size :

    58 Seiten


    Type of media :

    Report


    Type of material :

    Print


    Language :

    English