Die Untersuchungen eines Instrument-Landeverfahrens ergaben,dass zur Ueberwachung einer von stoerenden Nachbarbereichen befreiten Landebahn die Radarrundsicht die beste Kontrollmoeglichkeit bei vertretbarem Aufwand bietet. Fuer diese Zwecke wurde ein tragbarer Detektor mit einer Ortungsgenauigkeit von 0,0005 DDM entwickelt, der damit die um eine Zehnerpotenz niedrigeren CAO-Standardforderungen voll erfuellt. Ueber den Aufbau, die Ausfuehrung und die Erprobung dieses Leitstrahl-Monitors wird berichtet.


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    Titel :

    Instrument landing system improvement program: Centerline monitor (Final rept.)


    Weitere Titelangaben:

    systems: Leistrahl-Monitor. (Schlussbericht)


    Beteiligte:
    Garrett, P.H. (Autor:in) / Rondini, R.A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1974


    Format / Umfang :

    58 Seiten


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch