1994 kaufte CNTK ein Rasterelektronenmikroskop JSM-5800 der japanischen Firma JEOL und ein mit ihm zusammenwirkendes Spektrometer des Systems EDS der Fa. Oxford Instruments. Aufbau und Wirkprinzip des hochauflösenden Mikroskops mit großer Tiefenschärfe werden erläutert. Technische Daten: Auflösungsfähigkeit 3,5 mm, Vergrößerung 18-300 000, max. Probenabmessung 203,2 mm, Elektronenquelle Wolframfaser. Anwendungsmöglichkeiten: fraktografische Untersuchungen (U. ), U. der Bruchmechanismen und der Bruchform, metallografische U., U. des inneren Materialaufbaus, U. der Oberflächenmorphologie (Oberflächenzerstörung, Korrosion, Verschleiß).
Mozliwosci badawcze elektronowego mikroskopu skaningowego
Prüfmöglichkeiten des Rasterelektronenmikroskop
Prace CNTK ; 114 ; 40-43
1996-01-01
4 pages
Article (Journal)
Polish
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